日本理學波長色散XRF
德國蔡司掃描電鏡
蔡司工業(yè)CT與三維掃描儀
德國斯派克能量色散XRF
德國斯派克直讀光譜儀
德國斯派克ICP
絕緣電阻測試系統(tǒng)
物理材料實驗室設備
標準樣品
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日本理學ZSX Primus 波長色散X射線熒光光譜儀
理學ZSX系列中最新的儀器，ZSX Primus沿襲了及時提供精確結(jié)果的傳統(tǒng)，無與倫比的可靠性，靈活性和簡便性適合當今實驗室的各種挑戰(zhàn) -
日本理學ZSX Primus III+ 波長色散X射線熒光光譜儀
X射線管位于分析樣品上方，最大程度減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風險，并且無需在進行粉末樣品并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑，使樣品制備更快捷簡便。 -
日本理學ZSX Primus IV 波長色散X射線熒光光譜儀
理學掃描型波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV采用獨特的上照射設計，完美契合粉末樣品測試需求，可以快速定量分析從Be（鈹）到U（鈾）的各種類型樣品的成分分析。 -
日本理學Supermini 200波長色散型X射線熒光光譜儀
Supermini200擁有改良的軟件功能和更為小巧的機身。作為臺式順序WDXRF，可以分析幾乎任何材料中從氧（O）到鈾（U）的元素。理學的Supermini200提供了低成本，高分辨率和低檢出限。 -
日本理學Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀
理學Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀，作為一款功能強大的元素分析分析工具，廣泛用于高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）的過程控制和品質(zhì)管控。 -
日本理學全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF 3760-華普通用
全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計量測量離散點的元素污染或使用完整的晶圓圖 -
日本理學連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400-華普通用
Rigaku 獨特的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設計。 -
日本理學全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310-華普通用
日本理學全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量 -
日本理學MiniFlex 600 臺式X射線衍射儀-華普通用
理學臺式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認為的X射線衍射儀方式。 -
理學波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IVi
理學波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IVi，采用下照式光路結(jié)構(gòu)，能夠?qū)σ后w、合金和電鍍金屬等樣品進行無損分析。ZSX Primus IVi為分析最復雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。 -
理學波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IIInext
理學新一代波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IIInext，采用理學獨特的光路結(jié)構(gòu)，使其成為質(zhì)量和生產(chǎn)控制等應用中通用XRF的理想選擇。 -
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀WDA 3650-華普通用
波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進行無損、非接觸式分析